半导体分立器件
2EC600系列砷化镓变容二极管详细规范
1范围
1.1主题内容
本规范规定了2EC600系列砷化镓变容二极管（以下简称器件）的详细要求。
1.2适用范围
本规范适用于器件的研制、生产和采购。
1.3分类
本规范根据器件质量保证等级进行分类。
1.3.1器件的等级按GJB 33《半导体分立器件总规范》1.3条的规定，提供的质量保证等级为普军、特军和超特军三级，分别用字母GP、GT和GCT表示。
2引用文件
GB 6570—86 微波二级管测试方法
GJB 33—85 半导体分立器件总规范
GJB 128—86 半导体分立器件试验方法
CJB 半导体分立器件 微波二极管外形尺寸。
3要求
3.1详细要求
各项要求应符合GJB 33和本规范的规定。
3.2设计、结构和外形尺寸
器件的设计、结构和外形尺寸应按GJB 33和本规范的规定。
3.2.1引出端材料和涂层
引出端材料应为铜，表面涂层应为金。
3.2.2外形尺寸
外形尺寸按GJB 半导体分立器件 微波二极管外形尺寸的W8—02型，如图1。
mm
|
符号
|
尺 寸 | |
|
min |
max | |
|
D |
2.54 |
2.66 |
|
D1 |
1.72 |
1.88 |
|
E |
0.94 |
1.00 |
|
H |
2.8 |
3.6 |
|
H1 |
1.5 |
2．1 |
|
C |
0.60 |
0.80 |
图1
3.3最大额定值和主要电特性
3.3.1最大额定值
|
1) Pt Tamb= 25℃ (mW) |
VR
IR= 10A (V) |
Tstg
(℃) |
TOP
(℃) |
|
100 |
30 |
-65～+ 175 |
-55～+125 |
注：1）Tamb在25～125℃之同按0. 67roW/℃线性降额，
3.3.2主要电特性（Tamb=25℃）
|
极限 值 型号
|
C(tat)0 VR=OV F=1MHz (pF) |
V(BR) IR=10A
(V) |
C(tot)0/Ctot(sot) VR1=OV VR2=30V
|
Q VR=4V
f=9.375GHz |
IR1 VR=24V
(nA) |
F IF=2OmA f=1KHz Ω | ||||||
|
最小值 |
最大值 |
最小值 |
最大值 |
最小值 |
摄大值 |
最小值 |
最大值 |
最小值 |
最大值 |
最小值 |
最大值 | |
|
2EC601 |
0.70 |
O.95 |
30 |
— |
2.00 |
|
20 |
— |
— |
50 |
— |
2.8 |
|
2EC602 |
0.95 |
1.20 |
2.10 |
14 | ||||||||
|
2EC603 |
1.20 |
1.70 |
2.50 |
8 | ||||||||
|
2EC604 |
1.70 |
2.20 |
2.75 |
7 | ||||||||
|
2EC605 |
2.2O |
3.20 |
3.00 |
6 | ||||||||
3.4电测试要求
电测试应符合GB 6570及本规范的规定。
3.5标志
标志应符合GJB 33和本规范的规定。
4质量保证规定
4.1抽样和检验
抽样和检验应按GJB 33的规定。
4.2鉴定检验
鉴定检验应按GJB 33的规定。
4.3筛选（仅对GT和GCT级）
筛选应按GJB 33表2和本规范的规定。其测试应按本规范表1的规定进行，超过本规范表l极限值的器件应予以剔除。
|
筛 选 见GJB 33表2 |
试验方法 GJB 128方法 |
测 试 |
|
3热冲击 7中间测试 8电老化 9最后测试
|
1051
1038试验条件B
|
除循环20次外，其余同试验条件F。 V(tot)、V(BR)、F 见4.3.1 ｜⊿V(tot)｜≤初始值的5% ｜⊿V(BR) ｜≤初始值的15% ｜⊿F ｜≤初始值的15% 其他参数：按本规范表1的A2分组 |
4.3.1电老化
Tamb=125℃，VR=12V叠加50Hz正弦波交流信号，使正向峰值电流为1—5A。
4.4质量一致性检验
4.4.1 A组检验
A组检验应按GJB 33和本规范表1的规定进行。
4.4.2B组检验
B组检验应按GJB 33和本规范表2的规定进行。
4.4.3C组检验
C组检验应按GJB 33和本规范表3的规定进行。
4.5检验和试验方法
检验和试验方法应按本规范相应表的规定。
表l A组检验
|
检验或试验
|
GB 6570 |
LTPD
|
符号
|
极限值 |
单位
| ||
|
方法 |
条 件 |
最小值 |
最大值 | ||||
|
A1分组 外观及机械检验 |
GJB 128 2071 |
|
5
|
|
|
|
|
|
A2分组 反向电流 击穿电压 正向微分电阻
总电容
2EC601 2EC602 2EC603 2EC604 2EC605 电容比 2EC601 2EC602 2EC603 2EC604 2EC605 |
5.1 3.1 3.4
5.5
5.5
|
VR=24V IR=10A IF=20mA f=1kHz VR=OV f=1MHz
VR1=OV VR2=3OV
|
5
|
IR1 V(BR) F
C(tot)
|
30
0.7 O.95 1.20 1.70 2.2
2.00 2.10 2.50 2.75 3.00 |
50
2.8
O.95 1.20 1.70 2.2 3.2
|
nA V Ω
pF
|
|
A3分组 高温工作 反向电流
|
5.1
|
Tamb=125℃ VR=24V |
5
|
IRZ
|
|
500
|
nA
|
|
A4分组 Q值
2EC601 2EC602 2EC603 2EC604 2EC605 |
5.8.3
|
VR=4V f=9.375GHz
|
5
|
Q
|
20 14 8 7 6 |
|
|
表2 B组检验
|
检验或试验
|
GJB 128 |
LTPD
| |
|
方 法 |
条 件 | ||
|
B2分组 热冲击（温度循环） 密封 a. 细检漏 b．粗检漏 最后测试 |
1051 1071
|
试验条件F—1，t（极限值）≥15min
试验条件H 试验条件C 按表4步骤1和3 |
10
|
|
B3分组 稳态工作寿命
最后测试： |
1027
|
Tamb=85℃,V=11V,叠加50Hz，正弦波交流 信号,使正向峰值电流为l～5A，反向峰值 电压24V 按表4步骤2、4和5 |
5
|
|
B6分组 高温寿命（非工作状 态） 最后测试 |
1032
|
340h,Tamb=175℃
按表4步骤2、4和5 |
7
|
表3 C组检验
|
检验或试验
|
GJB 128 |
LTPD
| |
|
方 法 |
条 件 | ||
|
C1分组 外形尺寸 |
2026 |
见图1 |
15
|
|
C2分组 热冲击（玻璃应力） 密封 a．细检漏 b．粗检漏 综合温度/湿度 周期试验 最后测试 |
1056 1071
1021
|
试验条件A
试验条件H 试验条件C
按表4步骤1和3 |
10
|
|
C3分组 冲击 变动振动 恒定加速皮 最后测试 |
2016 2056 2O06
|
4900m/s2(500g)，0.5ms在x、y.z的每个方向 冲击5次 190000m/s2(20000g) 按表4步骤l和3 |
10
|
|
C4分组 盐气（适用时） |
1041 |
|
15
|
|
C6分组 稳态工作寿命
最后测试 |
1026
|
Tamb=85℃，VR=11V叠加50Hz正弦波交流 信号，使正向峰值电流为1-5A ，反向峰值电压24V 按表4步骤2、4和5 |
=10
|
表4 B组和C组检验的电测试
|
步骤
|
测 试
|
GB 6570 |
符 号
|
极 限 |
单位 | ||
|
方法 |
条 件 |
最小值 |
最大值 | ||||
|
l |
反向电流 |
5.1 |
VR=24V |
IR |
|
50 |
nA |
|
2 |
反向电流 |
5.1 |
VR=24V |
』t |
|
100 |
nA |
|
3
|
总电容
2EC60l ZEC602 2EC603 2EC604 ZEC605 |
5.5
|
VR=OV , f=1MHz
|
C(tot)0
|
同A3分组
|
pF
| |
|
4
|
总电容变化
|
5.5
|
VR=OV , f=1MHz |
C(tot)0 |
｜⊿C(tot)0｜≤初始值的10% |
pF
| |
|
5 |
正向微分电阻变化 |
5.4 |
IF=2OmA f=1KHz |
⊿F |
｜⊿F ｜≤初始值的20% |
Ω | |
5交货准备
5.1包装要求
包装要求应按GJB 33的规定。
5.2贮存要求
贮存要求应按GJB 33的规定。
5.3运输要求
运输要求应按GJB 33的规定。
6说明事项
6.1 预定用途
符合本规范的器件供新设备使用和供现有设备的后勤保障用。
6.2订货文件内容
合同或订单中应载明下列内容：
a． 本规范的名称和编号；
b． 等级（见1.3.1）；
c． 数量；
d． 需要时，其他要求。
6.3对引出端材料和涂层有特殊要求时，应在合同或订货单中规定（见3.2.1）。
如使用单位需要时，典型特性曲线等可在合同或订单中规定。
附加说明：
本规范由中国电子技术标准化研究所归口。
本规范由电子工业部第五十五研究所负责起草。
本规范主要起草人：吴逵、胡荣中、金贵永。
计划项目代号：B11023。
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