电子元器件详细规范
半导体集成电路CD3220CP型带
ALC双前置放大器
SJ/T 10257--91
Detail specification for electronic component
Semiconductor integrated circuit-type CD3220CP dual
preamplifier with ALC
本规范规定了半导体集成电路音响电路CD3220CP型带ALC双前置放大器质量评定的全部内容．
本规范符合GB 4589.1《半导体器件 分立器件和集成电路总规范》及GB/T l2750《半导体集成电路分规范（不包括混合电路）》的要求。
|
中华人民共和国机械电子工业部 |
| |
|
评定器件质量的依据： GB 4589.1《半导体器件 分立器件和集成 电路总规范》及GB/T 12750《半导体集成电 路分规范（不包括混合电路）》 |
SJ/T 10257--91
| |
|
CD3220CP型带ALC双前置放大器详细规范 订货资料：见本规范第7章。 | ||
|
1 机械说明 外形依据，GB 7092(半导体集成电路外 形尺寸》． 外形图:按GB 7092第5.5.1条 P14S3． 引出端排列：
引出端符号名称；见本规范第11章。 标志：按GB 4589.1第2.5条及本规范 第6章。 |
2 简要说明 双极型音响集成电路 半导体材料．硅 封装，非空封 应用：主要在音响设备中作录音及放音 放大用。 品种： | |
|
工作环境 温度 型号
封装形式 |
-20～75℃ (C)
| |
|
塑料双列直插
(P) |
CD3220CP
| |
|
| ||
|
3 质量评定类别 | ||
|
Ⅱ 类 | ||
|
参考数据t 录音时推荐工作条件 Vcc:5～13V．R1≥680Ω． | ||
4 极限值（绝对最大额定值）
若无其它规定，Tamb=25℃
|
|
|
|
数 值 |
| |
|
条款号 |
参 数 |
符 号 |
最 小 |
最 大 |
单 位 |
|
4.1 |
电源电压 |
Vcc |
--- |
14 |
V |
|
4.2
|
功耗
(Tamb≤40℃） |
PD
|
--- |
600
|
mW
|
|
4.3 |
工作环境温度 |
Tamb |
-20 |
75 |
℃ |
|
4.4 |
贮存温度 |
Tstg |
-40 |
125 |
℃ |
|
4.5
|
ALC晶体管允 许电流 |
IAIC
|
--- |
3.5
|
mA
|
5 电特性
电特性的检验要求见本规范第8章．
若无其它规定，Tamb=25℃．Vcc=5V，= lkHz．RL=10kΩ(放音)．RL=680Ω（录音）。
|
|
|
|
规范值 |
|
| ||
|
条款号 |
特性和条件 |
符 号 |
最 小 |
典 型 |
最 大 |
单 位 |
试 验 |
|
5.1 |
静态电流 |
Iceo |
-- |
4.5 |
10 |
mA |
A3 |
|
5.2 |
最大输出电压（放音） THD=1% |
VOM |
0.9 |
1.2 |
-- |
V |
A4 |
|
5.3 |
全谐波失真皮（放音） Vo=0.5V |
TIID |
-- |
O．1% |
1.O% |
-- |
A4 |
|
5.4 |
通道隔离度（放音） Rg=2.2kΩ,Vo=775mV |
CSR |
40 |
50 |
-- |
dB |
A4 |
|
5.5
|
输入噪声电压（放音） Rg=2.2kΩ 通带:20Hz～20kHz |
VX1
|
|
1.0
|
2.0 |
μV |
A4
|
|
5.6 |
ALC控制范围（录音） V1=0.775mV |
RALC
|
35 |
45 |
-- |
dB
|
A4
|
|
5.7 |
ALC平衡度（录音） V1=77.5mV |
BALC |
-- |
O |
2．O |
dB |
A4 |
|
5.8 |
ALC失真度（录音） V1=77.5mV |
TIIDALC |
-- |
0.5% |
2．O% |
-- |
A4 |
6 标志
器件上的标志示例:
7 订货资料
a． 产品型号;
b． 详细规范编号;
c． 质量评定类别；
d． 其它．
8 试验条件及检验要求
抽样要求：根据质量评定类别，按GB/T 12750第9章的规定。
A组检验的抽样要求
|
|
AQI | |
|
分 组 |
Ⅱ类 | |
|
检查水平(IL) |
AQI | |
|
A1 |
Ⅱ |
0..65 |
|
A3 |
Ⅱ |
O.15 |
|
A4 |
S4 |
1.O |
B组、C组和D组检验的抽样要求
|
分 组
|
LTPD |
|
Ⅱ类 | |
|
B1 |
15 |
|
Cl |
20 |
|
C3 |
15 |
|
B4 C4 |
10 |
续 表
|
分 组
|
LTPD |
|
Ⅱ类 | |
|
B5 C5 |
10 |
|
C7 |
15 |
|
B8 C8 D8 |
10 |
|
C9 |
15 |
|
C11 |
20 |
A组——逐批
所有试验均为非破坏性的（见GB 4589.1第3.6.6条）
|
检验或试验
|
引用标准
|
条 件 若无其它规定，Tamb=25℃ （见GB 4589.1第4.1条） |
检验要求 规范值 |
|
A1分组 外部目检
|
GB 4589.1 第4.2.1.1条
|
|
标志清晰，无表面损伤和气孔 |
|
A3分组 25℃下的静态特性
|
GB 7500《半导体集 成音响电路音频前 置放大器测试方法 的基本原理' |
按本规范第5.1条及10.1 条
|
按本规范第5.1条
|
|
A4分组 25℃下的动态特性 |
GB 7500 |
按本规范第5.2条至第5.8． 条及10.1条 |
按本规范第5.2至第S5.8条 |
B组——逐批
标有(D)的试验为破坏性的（见GB 4589.1第3.6.6条）
|
检验或试验
|
引用标准
|
条 件 若无其它规定，Tamb=25℃ （见GB 4589.1第4.1条） |
检验要求 规范值 |
|
B1分组 尺寸 |
GB 4589.1第4,2.2 条及附录B |
|
按本规范第1章 |
|
B4分组 可焊性
|
GB 4590(半导体集 成电路机械和气候 试验方法》第2.5条 |
按方法b（槽焊法）
|
按GB 4S90第2.5.6条
|
B组——逐批（续）
|
检验或试验
|
引用标准
|
条 件 若无其它规定，Tamb=25℃ （见GB 4589.1第4.1条） |
检验要求 规范值 |
|
B5分组 温度快速变化
随后进行： 外部日检
稳态湿热(D) 电测量 |
GB 4590第3,1条
GB 4589.1 第4.2,1,1条 GB 4590第3.7条
|
温度按严格度A 循环次数：10次 ：5min
严格度A． 24h 同A3和A4分组 |
同A1分组
同A3和A4分组 |
|
B8分组 电耐久性
电测量 （同A3和A4分组）
|
GB/T 12750第12.3 条
|
168h 温度为75℃
其它按本规范第10.2条
同A3和A4分组 恢复2h.24h内测完 |
小于1.3USL 大于0. 8LSL |
|
CRRL分组 |
就B4、B5和B8分组提供计数检查结果． | ||
注:1）USL和LSL，分别表示AS组规范值的最大值和最小值．
C组——周期
标有(D)的试验为破坏性的（见GB 4589.1第3.6.6条）
|
检验或试验
|
引用标准
|
条 件 若无其它规定，Tamb=25℃ （见GB 4589.1第4.1条） |
检验要求 规范值 |
|
C1分组 尺寸 |
GB 4589.1第4.2.2条及 附录B |
|
按本规范第1章 |
|
C3分组 引线强度 拉力(D) 弯曲(D>
|
GB 4590第2.1条 GB 4590第2.2条
|
F=5N 按试验a之方法2． F=2.5N |
按GB 4590第2.l.5条无断裂
|
|
C4分组 耐焊接热(D) 电测量 |
GB 45.90第2.6条
|
按方法:(260℃槽焊) 同A3和A4分组 |
同A3和A4分组 |
|
C5分组 温度快速变化 |
GB 4590第3.1条 |
温度按严格度A |
．
|
C组——周期（续）
|
检验或试验
|
引用标准
|
条 件 若无其它规定，Tamb=25℃ （见GB 4589.1第4.1条） |
检验要求 规范值 |
|
随后进行； 外部目检
稳态湿热(D) 电测量 |
GB 4589.1 第4.2.1.1条 OB 4590第3.7l条
|
循环次数：500次 ：5min
严格度A，24h 同A3和A4分组 |
同A1分组
同A3和A4分组 |
|
C7分组 稳态湿热(D) 电测量 |
GB 4590第3.7条 ．
|
按严格度A．不加电．1000h 同A3和A4分组 |
同B8分组 |
|
C8分组 电耐久性 电测量 |
GB/T 12750第12.3条
|
loooh,其它同B8分组 同A3和A4分组 |
同B8分组 |
|
C9分组 高温贮存(D) 电测量 |
GB 4590第3.3条
|
1000h,温度按严格度C 同A3和A4分组 |
同B8分组 |
|
Cll分组 标志耐久性 |
GB 4590第4.3条 |
按方法l |
按GB 4590第4,3.2条 |
|
CRRL分组 |
就C3、C4，c5、C7、C8、C9和C11分组提供计数检查结果． | ||
9 D组
D8分组应在鉴定批准之后立即进行，以后每年进行一次。
|
检验或试验 |
引用标准 |
条 件 |
检验要求 规范值 |
|
D8分组 电耐久性(D)
电测量 |
GB/T 12750 第12.3条
|
2000h.其它同B8分组
同A3和A4分组 |
同B8分组 |
10 附加资料
10.1 电特性的测盘
10.1.1测试方法
|
参 数 |
测 试 方 法 |
|
ICOD |
GB 7500第2.1条 |
|
AVO |
GB 7500第2.2条 |
|
AVF |
GB 7500第2.3条 |
|
TKKD |
GB 7500第2.4条 |
|
TIID |
GB 7500第2.7条 |
|
CST |
GB 7500第2.10条 |
|
VNI |
GB 7500第2.8条 |
|
RALC |
GB 7500第2.14条 |
|
CBALC |
GB 7500第2.17条 |
|
THDALC |
GB 7500第2.15条 |
|
R1 |
GB 7500第2.5条 |
10.1.2测试原理图
测试原理图中的开关位置
|
本规范相应 条 款 号 |
测试项目
|
S1-1
|
S1-2
|
S2
|
S3 |
S4
|
S5 |
S6 |
|
5.1 |
Icco |
2 |
2 |
断 |
断 |
l |
断 |
断 |
|
5.2 |
VOM |
1 |
l |
断 |
通 |
1 |
断 |
断 |
|
5.3 |
TIID |
1 |
1 |
断 |
通 |
1 |
断 |
断 |
|
5.4 |
CSR |
l 2 |
2 1 |
断
|
通
|
1
|
断
|
断
|
|
5.5 |
VM |
2 |
2 |
断 |
通 |
1 |
断 |
通 |
|
5.6 |
RALC |
1 |
l |
断 |
断 |
2 |
通 |
断 |
|
5.7 |
BALC |
1 |
1 |
断 |
断 |
2 |
通 |
断 |
|
5.8 |
THDALC |
1 |
l |
断 |
断 |
2 |
通 |
断 |
|
10.1.3.1 |
AVO |
1 |
1 |
道 |
断 |
1 |
断 |
断 |
|
10.1.3.2 |
AVV |
1 |
1 |
断 |
通 |
1 |
断 |
断 |
10.1.3设计保证参数或参考参数
若无其它规定，Tamb=25℃．Vcc=5V，f= lkHz．RL=10kΩ(放音)．RL=680Ω（录音）。
|
|
|
|
规 范 值 |
|
| |||
|
条款号 |
特性和条件 |
符号 |
最 小 |
典 型 |
最 大 |
单 位 |
测试图 | |
|
10.1.3.1 |
开环电压增益 |
AVO |
-- |
85 |
-- |
dB |
见10.1.2条 | |
|
10.1.3.2 |
闭环电压增
益 |
放音 |
|
-- |
40 |
-- |
|
|
|
录音 |
AVV
|
-- |
58 |
-- |
dB
|
见10.1.2条
| ||
|
10.1.3.3 |
输入电阻 V1=0.5V |
R1 |
-- |
30
|
-- |
kΩ
|
见lO．1.2条
| |
10.2电耐久性试验线路图
10.3 特性曲线
在产品说明书中给出下列特性曲线;
a． 主要电特性随温度变化曲线;
b． 其它有关特性曲线。
11 型号说明
11.1 功能框图
11.2 引出端符号名称
|
引出端符号 |
名 称 |
引出端符号 |
名 称 |
|
GND |
地 |
DC |
退耦 |
|
lOUT |
l通道输出 |
2OUTALC |
2通道自动电平控制输出 |
|
1COMP |
1通道补偿 |
2IN |
2通道同相输入 |
|
1IN |
1通道反相输入 |
2IN |
2通道反楣输入 |
|
1IN |
1通道同相输入 |
2COMP |
2通道补偿 |
|
1OUTALC |
1通道自动电平控制输出 |
20UT |
2通道输出 |
|
1NALC |
自动电平控制输入 |
Vcc |
电源 |
附加说明:
本标准由全国半导体器件标准化技术委员会集成电路分技术委员会提出。
本标准由上海无线电七厂负责起草。
本标准主要起草人:沈昭年 陈志钧
1603